Résultats de recherche

Domaine : MATÉRIAUX - CHIMIE / Chimie physique

Définition : Microscopie à sonde locale qui utilise la mesure de l’intensité du courant électrique dû au passage des électrons par effet tunnel entre la pointe de la sonde et la surface de l’échantillon.

Équivalent étranger : scanning tunnelling electron microscopy (en) ou STEM ou scanning tunnelling microscopy (en) ou STM

Domaine : MATÉRIAUX - CHIMIE / Chimie physique

Définition : Microscopie à sonde locale qui utilise la mesure des variations des forces attractives et répulsives s’exerçant entre les atomes de la pointe de la sonde et ceux de la surface de l’échantillon.

Équivalent étranger : atomic force microscopy (en) ou AFM

Domaine : MATÉRIAUX - CHIMIE / Chimie physique

Définition : Technique qui permet d’obtenir une image à très haute résolution de la surface d’un échantillon, en balayant cette surface avec une pointe fine.

Équivalent étranger : scanning probe microscopy (en) ou SPM

Domaine : MATÉRIAUX - CHIMIE / Chimie physique

Définition : Microscopie à sonde locale qui utilise une sonde dont la pointe est l’extrémité effilée d’une fibre optique capable de détecter le champ électromagnétique de faible portée présent à la surface de l’échantillon.

Équivalent étranger : near-field scanning optical microscopy (en) ou NSOM ou scanning near-field optical microscopy (en) ou SNOM