microscopie à force atomique ou MFA
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Domaine :
MATÉRIAUX - CHIMIE /
Chimie physique
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Définition : Microscopie à sonde locale qui utilise la mesure des variations des forces attractives et répulsives s’exerçant entre les atomes de la pointe de la sonde et ceux de la surface de l’échantillon.
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Équivalent étranger :
atomic force microscopy (en) ou AFM