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test intégré

Journal officiel du 22/09/2000

Domaine

ÉLECTRONIQUE / Composants électroniques

Définition

Test réalisé au moyen de cellules introduites dans un circuit, permettant l'analyse des nœuds d'interconnexion.

Équivalent étranger

built-in self test (en)

Source
révision de l'arrêté du 29 avril 1992