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Journal officiel du 28/01/2020
microscopie à force atomique
Abréviation : MFA
Domaine : MATÉRIAUX-CHIMIE/Chimie physique
Définition : Microscopie à sonde locale qui utilise la mesure des variations des forces attractives et répulsives s’exerçant entre les atomes de la pointe de la sonde et ceux de la surface de l’échantillon.
Voir aussi : microscopie à effet tunnel, microscopie à sonde locale, microscopie optique en champ proche
Équivalent étranger : atomic force microscopy, AFM (en)