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Journal officiel du 22/09/2000
génération de séquences de test
Abréviation : GST

Domaine : ÉLECTRONIQUE/Composants électroniques
Définition : Opération automatisée qui consiste à créer les séquences de tests permettant de vérifier le bon fonctionnement d'un circuit.
Note : En général, les générateurs de séquences de test vérifient que chacun des nœuds du circuit sera observable en vue de mettre au point une séquence de tests dont le cheminement à travers le circuit active tous ses nœuds et permet de propager les fautes jusqu'aux broches de sortie du composant.
Voir aussi : séquence de test, vecteur de test
Équivalent étranger : test pattern generation (en), TPG (en)
Source : révision de l'arrêté du 29 avril 1992